應(yīng)用

無損檢測PMI

• 在 1 秒內(nèi)以出色的精度為大多數(shù)合金提供 PMI。

• 針對殘留物和硫化物腐蝕等關(guān)鍵 PMI 應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化。

• 專為 NDT 設(shè)計(jì)，PMI 用戶可以訪問難以到達(dá)的測試位置和焊縫。

報(bào)廢處理

• 非常適用于高溫合金和貴金屬。

• 采用鋁應(yīng)用程序：在 1-2 秒內(nèi)對所有鋁合金進(jìn)行分類。

• 污染物磷和硫

• 針對常見雜質(zhì)元素的低檢測限進(jìn)行了優(yōu)化

采礦業(yè)

• X-550 用于地球化學(xué)?可以最快地分析礦石/土壤樣品中的低原子序數(shù)元素，包括 Mg、P、S、Al、Si、Ca 和 K。

土壤

• X-550 可能配備了用于?環(huán)境土壤元素分析. 分析包包括 8 種 RCRA 金屬和 11 種 EPA 優(yōu)先污染物金屬中的 12 種（鈹除外 –?為此使用我們的 LIBS). X-505 符合長期有效的 EPA 方法 6200。

RoHS 應(yīng)用

• X-550 可與我們的?RoHS 和無鹵素應(yīng)用，提供對?RoHS 元素 Pb、Cd、Br、總 Cr 和 Hg 以及 Cl 的快速、精確分析，以滿足無鹵要求。
  

一般分析

• X-505 可以配備我們的經(jīng)驗(yàn)應(yīng)用程序，允許用戶設(shè)置獨(dú)特的光束條件、定義感興趣的特定元素并創(chuàng)建自定義校準(zhǔn)。 對于合金、礦石和聚合物領(lǐng)域之外的分析要求，X-505 plus Empirical App 為獨(dú)特或?qū)Ｓ械姆治鲆筇峁┝送耆撵`活性。?

重量

2.98 磅。 （1.35 千克）含電池

激發(fā)源

40 kV、200 uA Rh 陽極和 10kV、500 uA 用于合金測試，50 kV、200 uA Au 陽極用于大多數(shù)其他應(yīng)用。

校準(zhǔn)

基本參數(shù)。 對于地球化學(xué)和環(huán)境土壤應(yīng)用程序，用戶還可以選擇“康普頓歸一化”方法和/或使用根據(jù)經(jīng)驗(yàn)得出的校準(zhǔn)。

尺寸

8.5x9.5x2.4英寸

探測器

20 mm2 硅漂移檢測器（有源區(qū)），140 eV 分辨率 FWHM，5.95 Mn K-alpha 線。

校準(zhǔn)檢查

用于校準(zhǔn)驗(yàn)證和能量秤驗(yàn)證的外部 316 不銹鋼檢查標(biāo)準(zhǔn)。

電力

板載可充電鋰離子電池，可在設(shè)備內(nèi)部或使用外部充電器充電，交流電源，熱插拔能力（最長 60 秒插拔時(shí)間）。

X 射線過濾

用于光束優(yōu)化的 4 位濾光輪。

分析范圍

32 元素標(biāo)準(zhǔn)，具體元素因應(yīng)用程序而異。 可以根據(jù)用戶請求添加其他元素。

屏 顯：

2.7 英寸彩色電容式觸摸屏，400 MHz Qualcomm Adreno 306 2/D/3D 圖形加速器。 后置顯示屏便于查看結(jié)果，在所有條件下都可讀。

處理電子和主機(jī)處理

1.2GHz 四核 ARM Cortex A53 64/32 位，RAM：2GB LP-DDR3，存儲(chǔ)：16 GB eMMC（存儲(chǔ)）。

可用應(yīng)用

合金、快速鋁、采礦、土壤、貴金屬、汽車催化劑、RoHS、經(jīng)驗(yàn)、HUD 含鉛涂料。 定期添加新應(yīng)用程序。

安全性

密碼保護(hù)使用（用戶級別）和內(nèi)部設(shè)置（管理員）。

脈沖處理器

12 位，數(shù)字化速率為 80 MSPS 8K 通道 MCA USB 2.0，用于向主機(jī)處理器進(jìn)行高速數(shù)據(jù)傳輸。 在 FPGA 中實(shí)現(xiàn)的數(shù)字濾波用于高吞吐量脈沖處理 20 nS – 24 uS 峰值時(shí)間。

等級庫

標(biāo)準(zhǔn)庫包含 500 多個(gè)等級，沒有實(shí)際大小限制。 支持多個(gè)庫，可以在分析儀上或通過 PC 軟件包 (ProfileBuilder) 添加等級。

監(jiān)管

CE、RoHS、USFDA 注冊、加拿大 RED 法案。

環(huán)境溫度范圍

10% 占空比時(shí) 130°F 至 25°F。