美國ASD公司（現隸屬于荷蘭帕納科）重磅推出FieldSpec 4地物光譜儀Hi-Res NG，將光譜分辨率提升至6nm，這進一步提高了下一代高光譜成像傳感器的分析精度，是地物光譜儀器的一次重要變革。
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更高分辨率的高光譜儀器可以協助用戶提高遙感分類應用的精度，識別更多之前無法從高光譜圖像中獲取的點像元信息。為了充分發揮下一代傳感器的潛能，那么基于地面測量的光譜儀器滿足或者超越成像傳感器的光譜分辨率，如果分辨率達不到高光譜成像的要求，那么數據在后處理過程中會因插值而丟失重要的光譜信息。
? ? ? FieldSpec 4 Hi-Res NG 地物光譜儀大大提升了光譜分辨率，正是為了滿足下一代高光譜成像系統（如：AVRIS-NG、HySpex ODIN-1024）的嚴格要求而設計。除了優越的光譜分辨率，像所有ASD地物光譜儀一樣，FieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR檢測器，在350nm到2500nm的全光譜范圍進行1875波段（編碼通道）的檢測，從而提供更小的采樣間隔（采樣帶寬），確保可以檢出樣品最細微的光譜特征。
性能指標
波長范圍 | 350-2500 nm |
? 光譜分辨率 | 3 nm @ 700 nm
6?nm? @ 1400/2100 nm |
采樣間隔 | 1.4 nm @ 350-1000 nm
1.1?nm @ 1001-2500 nm |
掃描時間 | 100 ms |
雜散光 | VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01% |
波長重復性 | 0.1 nm |
波長準確度 | 0.5 nm |
最大輻射 | VNIR 2?倍太陽光, SWIR 10?倍太陽光 |
通道數 | 2151 |
檢測器 | VNIR?檢測器?(350-1000 nm): 512?像元硅陣列傳感器
SWIR 1?檢測器?(1001-1800 nm): InGaAs?檢測器, TE?制冷
SWIR 2?檢測器?(1801-2500 nm): InGaAs?檢測器, TE?制冷 |
輸入 | 1.5 m?光纖(25°?視場).?可選前置鏡頭改變視場角 |
等效噪聲輻射（外接光纖） | VNIR? 1.0 X10-9??W/cm2/nm/sr @700 nm
SWIR 1??8.0 X10-9? W/cm2/nm/sr @ 1400 nm
SWIR 2??8.0 X10-9? W/cm2/nm/sr @ 2100 nm
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重量 | 5.44 kg |
校準 | 波長,?絕對反射率,?輻射度*,?福照度*.所有的校準可NIST溯源. (*輻射定標可選) |
電腦 | Windows? |
保修 | 一年整機保修（包含專家支持） |